Wiki LSSx.0

C

Pojęcia: 2

Karty kontrolne Wykres oddzielający naturalną zmienność stabilnego procesu od rzeczywistego sygnału zaburzenia, dzięki czemu zespoły przestają reagować na zwykły szum informacyjny. Stanowi podstawę do oceny, czy zmiana wskaźnika w ogóle wymaga podjęcia jakichkolwiek działań. Plan kontroli Dokument określający, co jest mierzone, jak często, przez kogo i jakie kroki należy podjąć w przypadku odchyleń — element zapobiegający utracie wypracowanych efektów usprawnień.

F

Pojęcia: 1

FMEA Analiza przyczyn i skutków wad (Failure Mode and Effects Analysis): ustrukturyzowana ocena tego, jak proces lub produkt może zawieść, jak poważne byłyby skutki poszczególnych wad i jakie jest prawdopodobieństwo ich wykrycia. Stosowana zapobiegawczo, zanim wystąpią problemy.

G

Pojęcia: 1

Gage R&R Badanie określające, jak duża część obserwowanej zmienności pochodzi z samego systemu pomiarowego, a nie z mierzonego obiektu.

J

Pojęcia: 1

Jidoka Wbudowanie wykrywania nieprawidłowości bezpośrednio w proces, tak aby zatrzymywał się on automatycznie, zamiast generować wady do momentu, aż ktoś je zauważy.

O

Pojęcia: 1

OEE Całkowita Efektywność Wyposażenia: dostępność pomnożona przez wydajność i pomnożona przez jakość, dająca udział zaplanowanego czasu, w którym wyprodukowano dobre wyroby z pełną prędkością.

P

Pojęcia: 2

Poka-Yoke Projektowanie kroku tak, aby błąd nie mógł zostać popełniony lub nie mógł przejść niewyryty — mechanizm zamiast przypomnienia, ponieważ uwaga bywa zawodna, a ograniczenia fizyczne nie. Zdolność procesu (Cp, Cpk) Wskaźniki porównujące naturalny rozrzut procesu ze specyfikacją, którą musi spełnić — Cp mierzy sam rozrzut, a Cpk mierzy rozrzut wraz z jego położeniem.